Smoltek når ny milstolpe i kondensatorteknik
Smoltek har meddelat ett genombrott i kondensatorteknik med deras senaste utveckling av CNF-MIM testkondensatorstrukturer.
Sammanfattning
Smoltek har uppnått en kapacitansdensitet över 1 µF/mm² med deras CNF-MIM testkondensatorer, vilket markerar ett viktigt teknologiskt genombrott.
Smoltek, ett ledande företag inom nanoteknik, har nyligen tillkännagivit ett betydande genombrott i utvecklingen av deras CNF-MIM testkondensatorstrukturer. I samarbete med SkyTech har Smoltek lyckats optimera och utvärdera ALD-filmer som deponerats på deras egenutvecklade kondensatorer. Resultatet är en kapacitansdensitet som överstiger 1 mikrofarad per kvadratmillimeter (1 µF/mm²), med en aktiv skikttjocklek på endast 6 mikrometer. Detta motsvarar en volymetrisk kapacitansdensitet som överstiger 160 nF/mm²-µm, vilket är bland de högsta rapporterade i branschen.
Dr. Ghavanini, CTO på Smoltek, uttryckte sin entusiasm över att bryta 1µF/mm²-barriären och betonade vikten av deras långsiktiga investering i ALD-processutveckling. SkyTechs avancerade ALD-teknik har varit avgörande för att uppnå denna rekordbrytande prestanda. Nästa steg för Smoltek är att överföra detta genombrott från laboratorieprototyper till produktprototyper, med fokus på att förbättra processutbytet och isolationsmotståndet.
George Yi, vd för SkyTech, betonade vikten av samarbetet och hur kombinationen av materialinnovation och avancerad ALD-processkontroll kan leda till nya prestandanivåer. Detta partnerskap visar potentialen i att tänja på gränserna för kondensatorteknik och möjligheterna för framtida produktintegration.
För investerare innebär detta genombrott att Smoltek befinner sig i en stark position för att kapitalisera på den ökande efterfrågan på högpresterande, ultratunna kondensatorer inom elektronikindustrin. Med tanke på företagets framsteg och framtida planer, rekommenderas en 'buy' strategi för investerare som söker långsiktig tillväxtpotential.
Källa
Sammanfattning
SkyTech och Smoltek har samarbetat för att optimera och utvärdera ALD-filmer på Smolteks CNF-MIM testkondensatorstrukturer, vilket resulterade i en kapacitansdensitet över 1 mikrofarad per kvadratmillimeter med en skikttjocklek på 6 mikrometer. Detta är en av de högsta volymetriska kapacitansdensiteterna för ultratunna kondensatorer. Smolteks CTO, Dr. Ghavanini, framhäver detta som en viktig milstolpe och berömmer SkyTechs ALD-teknik. Nästa steg är att överföra resultaten till produktprototyper med förbättrat processutbyte och isolationsmotstånd. SkyTechs VD, George Yi, ser fram emot fortsatt samarbete för produktintegration. För mer information kan man kontakta Magnus Andersson, VD för Smoltek Nanotech Holding AB.
